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BROADBAND INSTRUMENT FOR NONDESTRUCTIVE MEASUREMENT OF MATERIAL PROPERTIES

机译:用于非破坏性测量材料性能的宽带光谱仪

摘要

An instrument for measuring the properties of materials (14) is presented. This nondestructive, noncontacting instrument detects electromagnetic radiation from the materials (14) across a wide range of the electromagnetic spectrum, and combines these diverse data so as to derive the material (14) property values desired. In particular, the properties detectable through particle magnetic resonance, spectroscopy of light in the infrared-visible-ultraviolet range, and detection of x-ray and gamma ray radiation may be included in the instrument. Sensors (20) detect each wavelength band of electromagnetic radiation, and data from all of these sensors (20) is merged in a central data processor (12) to evaluate the material (14) properties of interest.
机译:提出了一种用于测量材料特性的仪器(14)。这种非破坏性,非接触性的仪器可以在很宽的电磁频谱范围内检测来自材料(14)的电磁辐射,并将这些不同的数据进行组合,从而得出所需的材料(14)性能值。特别地,通过粒子磁共振,在红外-可见-紫外范围内的光的光谱学以及对X射线和γ射线辐射的检测可检测的性质可以包括在仪器中。传感器(20)检测电磁辐射的每个波段,并且来自所有这些传感器(20)的数据在中央数据处理器(12)中合并以评估感兴趣的材料(14)的性质。

著录项

  • 公开/公告号WO9315470A1

    专利类型

  • 公开/公告日1993-08-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SGI INTERNATIONAL;

    申请/专利号WO1993US00704

  • 发明设计人 ESZTERGAR ERNEST P.;

    申请日1993-01-26

  • 分类号G01V5/00;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-22 05:07:12

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