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GaAs heterostructure metal-insulator-semiconductor integrated circuit and method for its fabrication

机译:GaAs异质结构金属-绝缘体-半导体集成电路及其制造方法

摘要

A heterostructure metal insulator semiconductor integrated circuit comprising a thin insulating Si/SiO₂ dielectric layer (22, 24) between a layer (20) of undoped AlGaAs and a layer (26) of metal silicide results in, for instance, GaAs field-effect-transistors (30) having much less gate current leakage and greater voltage range than like technology of the related art.
机译:一种异质结构的金属绝缘体半导体集成电路,包括在未掺杂的AlGaAs层(20)和金属硅化物层(26)之间的薄绝缘Si / SiO 2介电层(22、24),会导致例如GaAs场效应-与现有技术的类似技术相比,具有更少的栅极电流泄漏和更大的电压范围的晶体管(30)。

著录项

  • 公开/公告号EP0493797A3

    专利类型

  • 公开/公告日1993-03-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HONEYWELL INC.;

    申请/专利号EP19910122243

  • 发明设计人 NOHAVA THOMAS E.;CHILDS TIMOTHY T. DR.;

    申请日1991-12-27

  • 分类号H01L29/772;H01L29/76;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 05:06:11

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