首页> 外国专利> METHOD OF MEASURING TEMPERATURES OF CRYSTALLIZATION CENTER MAXIMAL NUMBER AND CRYSTAL GROWTH LINEAR RATE

METHOD OF MEASURING TEMPERATURES OF CRYSTALLIZATION CENTER MAXIMAL NUMBER AND CRYSTAL GROWTH LINEAR RATE

机译:结晶中心最大数和晶体生长线性速率的温度测量方法

摘要

use: u0441u0442u0435u043au043eu043bu044cu043du0430u00a0 industry. the essence of the u0438u0437u043eu0431u0440u0435u0442u0435u043du0438u00a0: take u043fu0440u043eu0444u0438u043bu044cu0433u0440u0430u043cu043cu0443 flat samples free of or polished surface. the maximum number of points u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 crystallization temperature heat treatment model, in which the maximum number of peaks u043eu0431u0440u0430u0437u0443u0435u0442u0441u00a0 n a unit of length u043fu0440u043eu0444u0438u043bu043eu0433u0440u0430u043c we.the temperature of the maximum linear velocity u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 crystallization temperature heat treatment samples, corresponding to the maximum integral u0448u0435u0440u043eu0445u043eu0432u0430 u0442u043eu0441u0442u0438. table 4. h - yu
机译:使用: u0441 u0442 u0435 u043a u043e u043b u044c u043d u0430 u00a0行业。 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0435 u0442 u0435 u043d u0438 u00a0的本质:以 u043f u0440 u043e u0444 u0438 u043b u043b u044c u0433 u0440 u0430 u043c u043c u0443没有或抛光表面的平坦样品。最高点数 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442结晶温度热处理模型,其中最大峰数为 u043e u0431 u0440 u0430 u0437 u0443 u0435 u0442 u0441 u00a0长度单位 u043f u0440 u043e u0444 u0438 u043b u043e u0433 u0440 u0430 u043c我们最大线速度的温度 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442结晶温度热处理样品,对应于最大积分 u0448 u0435 u0440 u043e u0445 u043e u0432 u0430 u0442 u043e u0441 u0442 u0438 。表4. h-yu

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号