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Apparatus for simultaneously measuring large and small particle size distribution

机译:同时测量大粒径和小粒径分布的设备

摘要

An apparatus for measuring a wide range of particle sizes in of a sample fluid with two separate light sources is provided. The individual light sources can be compensated to take into account any variations in transmission factors through the sample fluid prior to calculating the particle size distribution. Additionally, any fluctuations in the light source can also be measured to provide a compensation factor for the measured light intensities.
机译:提供了一种用于使用两个单独的光源测量样本流体中的大范围粒径的设备。在计算粒度分布之前,可以对单个光源进行补偿,以考虑到通过样品流体的透射系数的任何变化。另外,还可以测量光源中的任何波动,以为测量的光强度提供补偿因子。

著录项

  • 公开/公告号US5185641A

    专利类型

  • 公开/公告日1993-02-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HORIBA LTD.;

    申请/专利号US19910786553

  • 发明设计人 TATSUO IGUSHI;YOSHIAKI TOGAWA;

    申请日1991-11-01

  • 分类号G01N15/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 04:58:46

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