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机译:折射率二偏非线性系数的测量方法是双稳态光学谐振腔。
公开/公告号IT1240480B
专利类型
公开/公告日1993-12-17
原文格式PDF
申请/专利权人 CSELT - CENTRO STUDI E LABORATORI TELECOMUNICAZIONI S.P.A.;
申请/专利号IT19900067488
发明设计人 CAPONI RENATO;CALVANI RICCARDO;
申请日1990-07-04
分类号5G01JA;5G02FB;
国家 IT
入库时间 2022-08-22 04:44:15
机译: 折射率二偏非线性系数的测量方法是双稳态光学谐振腔。
机译: 用于在双稳态谐振腔中测量光学组件的折射率的非线性系数的方法。
机译: 双稳态谐振腔光学元件的非线性折光指数系数的测量方法