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A method of designing an experiment for analysing a material sample

机译:设计用于分析材料样本的实验的方法

摘要

A computer system 1 has a data base DB1 of analytical procedures for analysing a material sample 30 using radiation such as X-ray radiation in a diffractometer. The computer system requests a user to input to the system 1 information for identifying at least one desired parameter of the material sample 30. The computer system 1 uses this information to identify the possible analytical procedures for determining that desired parameter. An analytical procedure or procedures selected by the user and/or computer system is then simulated by the computer system to produce a first simulation of radiation leaving the sample. The selected analytical procedure is simulated again after the computer system has varied the influence of the desired parameter to produce a second simulation. The computer system then compares the first and second simulations to determine where the difference between the first and second simulations is greatest so as to enable an experiment to be conducted in the area or areas most sensitive to the desired parameter. IMAGE
机译:计算机系统1具有分析程序的数据库DB1,该分析程序用于使用诸如衍射仪中的X射线的辐射来分析材料样品30。该计算机系统请求用户向系统1输入用于识别材料样本30的至少一个期望参数的信息。计算机系统1使用该信息来识别用于确定该期望参数的可能的分析过程。然后由计算机系统模拟由用户和/或计算机系统选择的一个或多个分析程序,以产生离开样品的辐射的第一模拟。在计算机系统改变了所需参数的影响以产生第二个模拟之后,再次模拟所选的分析过程。然后,计算机系统比较第一和第二模拟,以确定第一和第二模拟之间的差异最大的地方,以便能够在对所需参数最敏感的一个或多个区域中进行实验。 <图像>

著录项

  • 公开/公告号GB9412839D0

    专利类型

  • 公开/公告日1994-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PHILIPS ELECTRONICS UK LIMITED;

    申请/专利号GB19940012839

  • 发明设计人

    申请日1994-06-25

  • 分类号G01N23/20;

  • 国家 GB

  • 入库时间 2022-08-22 04:32:52

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