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Method of chamber cleaning in MOCVD applications

机译:MOCVD应用中腔室清洁的方法

摘要

The invention is a process for cleaning a chamber after a chemical vapor deposition has been performed therein. A residue formed during the deposition is combined with a reactive species to form a gas containing an organic substance once found in the residue and to form a film on the chamber walls and internal parts. The gas and the film are removed from the chamber. The formation of a polymer byproduct on the chamber walls and other internal parts of the chamber is minimized by the method of the invention.
机译:本发明是在其中已经进行了化学气相沉积之后清洁腔室的方法。沉积过程中形成的残留物与反应性物质结合,形成一种一旦残留物中含有有机气体的气体,并在腔室壁和内部部件上形成薄膜。从腔室中去除气体和薄膜。通过本发明的方法使在腔室壁和腔室的其他内部部分上的聚合物副产物的形成最小化。

著录项

  • 公开/公告号US5464031A

    专利类型

  • 公开/公告日1995-11-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON SEMICONDUCTOR INC.;

    申请/专利号US19930081735

  • 发明设计人 TODD W. BULEY;GURTEJ S. SANDHU;

    申请日1993-06-22

  • 分类号B08B3/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 04:04:06

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