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pata of resist - ningu manner

机译:帕特奥·雷什·宁古曼雷

摘要

PURPOSE:To improve the usage and resolution of general resist by using masks which have different transmission wavelength for an exposed part and an unexposed part. CONSTITUTION:This method consists of a light source 1 which has a wide light emission spectrum, a mask 2, a mask substrate 21 made of synthetic quartz, a mask film 22 formed by adhering materials with transmission wavelength bands on the mask substrate 21 at the unexposed part A and exposed part B, a positive resist film 3, and a wafer 4. Then this mask is used to form lines (a) and spaces (b) on the positive resist film 3. Therefore, the fusion difficulty increases at the unexposed part and the fusibility is increased at the exposed part. Consequently, the resist itself is not improved, so the usage and resolution of the general resist are improved.
机译:目的:通过使用曝光部分和未曝光部分具有不同透射波长的掩模来提高通用抗蚀剂的使用率和分辨率。组成:该方法包括一个具有较宽发光光谱的光源1,一个掩模2,一个由合成石英制成的掩模基板21,一个通过在掩模基板21上将具有透射波长带的材料粘附在其上而形成的掩模膜22。未曝光部分A和曝光部分B,正抗蚀剂膜3和晶片4。然后,使用该掩模在正抗蚀剂膜3上形成线(a)和间隔(b)。未暴露部分,可熔性在暴露部分增加。因此,抗蚀剂本身没有得到改善,因此普通抗蚀剂的使用和分辨率得到改善。

著录项

  • 公开/公告号JP2506385B2

    专利类型

  • 公开/公告日1996-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LTD;

    申请/专利号JP19870244705

  • 发明设计人 YOSHIKAWA KOTA;

    申请日1987-09-29

  • 分类号G03F1/08;H01L21/027;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 03:58:25

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