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Common error interactive analytical instrument

机译:常见误差交互式分析仪

摘要

PURPOSE:To automatically extract an error interactive pattern common to the interaction history of plural operators. CONSTITUTION:An error interactive pattern comparing device 106 mutually compares a group of error interactive patterns read out from an error interactive pattern storing device 105 based upon a comparing reference read out from a comparing reference storing device 107 and groups patterns having the same attribute value group coincident with the comparing reference as common error interactive patterns. The common error interactive patterns are stored in a common error interactive pattern storing part 108. The common pattern is displayed on a diagram device 109 as a diagram. An interactive history retrieving device 110 selects a certain common error interactive pattern from the displayed diagram, retrieves the interactive history of an operator having the pattern and displays the relieved result on the device 109.
机译:目的:自动提取多个运算符交互历史中常见的错误交互模式。构成:错误交互模式比较装置106基于从比较基准存储装置107读出的比较基准,将具有相同属性值组的模式相互比较,从错误交互模式存储装置105中读出的一组误差交互模式进行比较。与比较参考重合,称为常见错误交互模式。普通错误交互模式被存储在普通错误交互模式存储部108中。该普通模式作为图显示在图设备109上。交互式历史记录检索设备110从显示的图中选择某个常见的错误交互式模式,检索具有该模式的操作员的交互式历史记录,并将缓解的结果显示在设备109上。

著录项

  • 公开/公告号JP2500470B2

    专利类型

  • 公开/公告日1996-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NIPPON ELECTRIC CO;

    申请/专利号JP19930225419

  • 发明设计人 OKADA HIDEHIKO;

    申请日1993-09-10

  • 分类号G06F3/02;G06F11/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 03:56:52

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