首页> 外国专利> The object to be measured adjustment base of laser interferometer

The object to be measured adjustment base of laser interferometer

机译:激光干涉仪的待测物调整座

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号JP2546025Y2

    专利类型

  • 公开/公告日1997-08-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士写真光機株式会社;

    申请/专利号JP19910017813U

  • 发明设计人 大井 重徳;

    申请日1991-03-01

  • 分类号G01B9/02;G01B11/24;G01M11/02;G12B5/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 03:32:10

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号