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Correction apparatus of the effects of the gas density in the mass measurement device due to the difference in the resonance frequency

机译：由于共振频率的不同而引起的质量测量装置中的气体密度的影响的校正装置

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公开/公告号JP2516974Y2

专利类型
公开/公告日1996-11-13

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申请/专利权人株式会社司測研;
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申请/专利号JP19900031713U
发明设计人柳原茂;
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申请日1990-03-27
分类号G01N5/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 03:29:27

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