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Automatic parametric self-testing and grading of a hardware system

机译:硬件系统的自动参数自检和分级

摘要

Automatic parametric testing of a system can be achieved by varying a parameter such as speed, voltage, and/or temperature, and then monitoring system performance. Such testing can be used to determine whether a given system meets specifications and performance variations from system to system.
机译:通过更改诸如速度,电压和/或温度之类的参数,然后监视系统性能,可以实现系统的自动参数测试。此类测试可用于确定给定系统是否满足规格和性能因系统而异。

著录项

  • 公开/公告号US5583875A

    专利类型

  • 公开/公告日1996-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS ROLM COMMUNICATIONS INC.;

    申请/专利号US19940345883

  • 发明设计人 DAVID WEISS;

    申请日1994-11-28

  • 分类号G06F11/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 03:10:56

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