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CONTROLLER FOR DISPLAYING KLM MARKER IN ELECTRON PROBE MICROANALYZER, ETC.

机译:在ETC电子探针微分析仪中显示KLM标记的控制器。

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a display control apparatus by which specific X-rays of an element to be observed are displayed clearly. ;SOLUTION: In a display control apparatus 2 for a KLM marker in an electron probe microanalyzer, an element name and the marker of its position are displayed on an analytical profile collected frpm an electron probe microanalyzer 1 or the like. The display control apparatus is provided with a marker-information table 22 which comprises position information on a marker so as to correspond to every line kind and every order for every element. Then, when an element, a line type and an order are designated by a marker designation part 4 as information used to display the marker, position information on the line type and the order of a corresponding element is read out from the marker-information table 22, and the marker is displayed in the position.;COPYRIGHT: (C)1998,JPO
机译:解决的问题:为了获得一种显示控制装置,通过该显示控制装置可以清楚地显示要观察的元素的特定X射线。 ;解决方案:在电子探针微分析仪中用于KLM标记的显示控制设备2中,元素名称及其位置的标记显示在电子探针微分析仪1等收集的分析轮廓上。显示控制设备设置有标记信息表22,该标记信息表22包括关于标记的位置信息,以对应于每种元素的每种线种类和每种顺序。然后,当由标记指定部分4将元素,线型和顺序指定为用于显示标记的信息时,从标记信息表中读出与该线型和相应元素的顺序有关的位置信息。 22,并且标记显示在该位置。; COPYRIGHT:(C)1998,JPO

著录项

  • 公开/公告号JPH10142173A

    专利类型

  • 公开/公告日1998-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JEOL LTD;

    申请/专利号JP19960293546

  • 发明设计人 YAMADA HIROYUKI;SAITO MASAKI;

    申请日1996-11-06

  • 分类号G01N23/225;H01J37/252;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 03:06:05

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