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DISPLACEMENT MEASURING DEVICE BASED ON SEMICONDUCTOR INJECTION LASER WITH EXTERNAL OPTICAL FEEDBACK

机译:基于带有外部光学反馈的半导体注入激光的位移测量装置

摘要

FIELD: optical measurements. SUBSTANCE: device has optical head consisting of injection laser, photodiode, microscope objective and controlled filter. In addition, device has control unit which includes regulator of laser current and temperature, triangle-voltage generator, photocurrent-to-voltage converter, selective amplifier, and indicator. Use is also made of pulse phase detector, comparator and reversible counter. EFFECT: higher measurement results. 3 dwg
机译:领域:光学测量。物质:设备具有由注入激光,光电二极管,显微镜物镜和受控滤光片组​​成的光学头。此外,该设备还具有控制单元,该控制单元包括激光电流和温度调节器,三角电压发生器,光电流电压转换器,选择性放大器和指示器。还使用了脉冲相位检测器,比较器和可逆计数器。效果:更高的测量结果。 3 dwg

著录项

  • 公开/公告号RU2102705C1

    专利类型

  • 公开/公告日1998-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 EDEVA RAN;

    申请/专利号RU19950112195

  • 发明设计人 JAKUTKIN V.V.;KOTOVA S.P.;CHERNYSHOV A.K.;

    申请日1995-07-12

  • 分类号G01B21/00;

  • 国家 RU

  • 入库时间 2022-08-22 02:45:17

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