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Testable ram - architecture in a microprocessor with an embedded cache - memory

机译:可测试的RAM-具有嵌入式缓存的微处理器中的体系结构-内存

摘要

A microprocessor (100) with embedded cache memory (204) is disclosed. In a "test mode" of operation, caches (204) are accessed directly from the memory interface signals. Direct writing and reading to/from the instruction and data caches (204) allows the testing of the functionality of the cache memory arrays (204). External memory interface is granted to an external master via a bus arbitration mechanism so that the test mode operation can be utilized. IMAGE
机译:公开了具有嵌入式高速缓冲存储器(204)的微处理器(100)。在操作的“测试模式”下,直接从存储器接口信号访问高速缓存(204)。直接向指令高速缓存和数据高速缓存写入和从指令高速缓存和高速缓存204的直接读取允许测试高速缓存存储器阵列(204)的功能。外部存储器接口通过总线仲裁机制授予外部主机,以便可以使用测试模式操作。 <图像>

著录项

  • 公开/公告号DE69126756T2

    专利类型

  • 公开/公告日1998-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LSI LOGIC CORP US;

    申请/专利号DE1991626756T

  • 发明设计人 DESAI SANJAY US;FUCCIO MICHAEL US;

    申请日1991-10-10

  • 分类号G06F11/267;G06F12/08;G11C29/00;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 02:42:59

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