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Semiconductor memory device having redundancy memory cells incorporated into sub memory cell blocks

机译:具有并入子存储单元块中的冗余存储单元的半导体存储器件

摘要

In a semiconductor memory device including first and second sub blocks each having a normal memory cell array and at least one redundancy memory cell row, and first and second sub block selecting circuits for selecting the first and second sub blocks, a multiplexer is connected between the first and second sub block selecting circuits and the first and second sub blocks, and redundancy memory cell row exchanging circuits for the redundancy memory cell rows are provided. The multiplexer is controlled in accordance with the output signals of the redundancy memory cell row exchanging circuits and the block selecting circuits, and the selection of the redundancy memory cell rows.
机译:在包括分别具有普通存储单元阵列和至少一个冗余存储单元行的第一和第二子块,以及用于选择第一和第二子块的第一和第二子块选择电路的半导体存储装置中,多路复用器连接在第一和第二子块之间。提供第一和第二子块选择电路以及第一和第二子块,以及用于冗余存储单元行的冗余存储单元行交换电路。根据冗余存储单元行交换电路和块选择电路的输出信号以及冗余存储单元行的选择来控制多路复用器。

著录项

  • 公开/公告号US5687125A

    专利类型

  • 公开/公告日1997-11-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号US19960755366

  • 发明设计人 WATARU KIKUCHI;

    申请日1996-11-25

  • 分类号G11C7/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 02:41:05

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