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Pattern recognition by unsupervised metric learning

机译:无监督度量学习的模式识别

摘要

A pattern recognition method uses unsupervised metric learning starting from a mixture of normal densities which explains well observed data. An improved decision rule is provided for selecting the reference database element most likely to correspond to a query.
机译:模式识别方法从正常密度的混合开始使用无监督的度量学习,这可以解释观察到的数据。提供了一种改进的决策规则,用于选择最有可能与查询相对应的参考数据库元素。

著录项

  • 公开/公告号US5774576A

    专利类型

  • 公开/公告日1998-06-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC RESEARCH INSTITUTE INC.;

    申请/专利号US19950503051

  • 发明设计人 INGEMAR J. COX;PETER N. YIANILOS;

    申请日1995-07-17

  • 分类号G06K9/62;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 02:39:14

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