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MICROHARDNESS MEASURING TECHNIQUE FOR THIN METAL COATINGS

机译:薄金属涂层的显微硬度测量技术

摘要

FIELD: measurement technology. SUBSTANCE: measuring technique involves determining microhardness by size of recovered mark left by diamond indenter at two loads applied to the latter: 100 and 200 g. True value of microhardness is found from relationship between mentioned microhardness values. EFFECT: improved accuracy of evaluating true microhardness. 2 dwg, 1 tbl
机译:领域:测量技术。实质:测量技术涉及在施加到金刚石压头的两个载荷下(100克和200克),根据金刚石压头留下的回收痕迹的大小确定显微硬度。从提到的显微硬度值之间的关系中可以找到显微硬度的真实值。效果:提高了评估真正的显微硬度的准确性。 2桶,1桶

著录项

  • 公开/公告号RU2132546C1

    专利类型

  • 公开/公告日1999-06-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AKTSIONERNOE OBSHCHESTVO AVTOVAZ;

    申请/专利号RU19970114357

  • 发明设计人 CHUMIKOV A.B.;ANIFEV V.A.;

    申请日1997-08-07

  • 分类号G01N3/44;

  • 国家 RU

  • 入库时间 2022-08-22 02:13:43

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