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机译:离轴-采样,计算机辅助电子束-断层扫描系统
公开/公告号DE69416430T2
专利类型
公开/公告日1999-08-05
原文格式PDF
申请/专利权人 IMATRON INC. SOUTH SAN FRANCISCO CALIF. US;
申请/专利号DE1994616430T
发明设计人 RAND ROY E. PALO ALTO CA 94306 US;BOYD DOUGLAS P. HILLSBOROUGH CA 94010 US;
申请日1994-12-13
分类号H05G1/60;A61B6/03;H05G1/26;H01J35/30;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 02:11:11
机译: 离轴扫描电子束计算机断层扫描系统