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Measuring short electron bunch lengths using coherent smith- purcell radiation

机译:使用相干史密斯-珀塞尔辐射测量短的电子束长度

摘要

A method is provided for directly determining the length of sub- picosecond electron bunches. A metallic grating is formed with a groove spacing greater than a length expected for the electron bunches. The electron bunches are passed over the metallic grating to generate coherent and incoherent Smith-Purcell radiation. The angular distribution of the coherent Smith-Purcell radiation is then mapped to directly deduce the length of the electron bunches.
机译:提供了一种直接确定亚皮秒电子束长度的方法。形成的金属光栅的凹槽间距大于电子束的预期长度。电子束穿过金属光栅,以产生相干和非相干的史密斯-珀塞尔辐射。然后将相干的史密斯-珀塞尔辐射的角分布进行映射,以直接推导电子束的长度。

著录项

  • 公开/公告号US5889797A

    专利类型

  • 公开/公告日1999-03-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORNIA;

    申请/专利号US19970915240

  • 发明设计人 DINH C. NGUYEN;

    申请日1997-08-20

  • 分类号H01S3/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 02:08:26

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