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Electron beam source and its manufacturing method, and electron beam source apparatus and electronic beam apparatus using the same

机译:电子束源及其制造方法,以及使用该电子束源的电子束源设备和电子束设备

摘要

An electron beam source is provided with an electron forming means (12,2,3) such as a doped layer of Si (2) for forming conduction band electrons near the surface of the pointed tip of a needle-shaped structure while suppressing emission of electrons from a valence band. The surface of the pointed tip of the needle-shaped structure is formed with a single-crystal semiconductor or insulator. Preferably a surface passivation layer (4) and/or a highly doped layer is formed on the surface of the needle-shaped structure. Also, means for exciting electrons in a valence band may be provided.
机译:电子束源设置有电子形成装置(12、2、3),例如Si(2)的掺杂层,用于在针状结构的尖端的表面附近形成导带电子,同时抑制电子的发射。价带电子。针状结构的尖端的表面由单晶半导体或绝缘体形成。优选在针状结构的表面上形成表面钝化层(4)和/或高掺杂层。而且,可以提供用于激发价带中的电子的装置。

著录项

  • 公开/公告号EP0718863B1

    专利类型

  • 公开/公告日2000-08-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD;

    申请/专利号EP19950119876

  • 申请日1995-12-15

  • 分类号H01J1/30;H01J9/02;H01J37/073;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 01:48:52

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