首页> 外国专利> Measurement parameter detection arrangement for distributed optical sensor network

Measurement parameter detection arrangement for distributed optical sensor network

机译:分布式光学传感器网络的测量参数检测装置

摘要

The arrangement has a light source (1) emitting several wavelengths, several sensors (2) and an evaluation unit (3). The light source and sensors and evaluation unit are interconnected via optical fibres (4,6). The evaluation unit contains a wavelength demultiplier for separating light of different wavelengths. Each sensor intensity modulates light of its associated wavelength with a measurement parameter. The evaluation unit has an intensity sensor for detecting the intensities of the light of the individual wavelengths and a measurement parameter converter for determining the measurement parameters from the intensities.
机译:该装置具有发射多个波长的光源(1),多个传感器(2)和评估单元(3)。光源,传感器和评估单元通过光纤(4,6)互连。评估单元包含一个波长分离器,用于分离不同波长的光。每个传感器强度通过测量参数调制其关联波长的光。评估单元具有用于检测各个波长的光的强度的强度传感器和用于根据强度确定测量参数的测量参数转换器。

著录项

  • 公开/公告号DE19926976A1

    专利类型

  • 公开/公告日2000-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AG;

    申请/专利号DE1999126976

  • 发明设计人 WILLSCH MICHAEL;

    申请日1999-06-14

  • 分类号G01D5/26;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:42:05

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号