首页> 外国专利> Memory system, method for verifying data stored in a memory system after a write cycle and method for writing to a memory system

Memory system, method for verifying data stored in a memory system after a write cycle and method for writing to a memory system

机译:存储器系统,在写周期之后用于验证存储在存储器系统中的数据的方法和用于写入存储器系统的方法

摘要

A memory system (20) comprising a memory array (22) having a plurality of memory cells (42) arranged in rows and columns. Each memory cell (42) has a control terminal. A voltage controller (26) provides to the control terminal of a memory cell a first verify voltage signal (Vabse) during a first verify cycle or a second verify voltage signal (Vabsp) during a second verify cycle. The first verify voltage signal (Vabse) having a predetermined voltage level that corresponds substantially to a threshold voltage level of a memory cell in the array in a first state and the second verify voltage signal (Vabsp) having a predetermined voltage level that corresponds substantially to a threshold voltage level of a memory cell in the array in a second state.
机译:一种存储系统(20),其包括具有以行和列布置的多个存储单元(42)的存储阵列(22)。每个存储单元(42)具有控制端子。电压控制器(26)在第一验证周期期间向存储单元的控制端子提供第一验证电压信号(Vabse),或者在第二验证周期期间将第二验证电压信号(Vabsp)提供给存储单元的控制端子。具有基本上对应于在第一状态下的阵列中的存储单元的阈值电压电平的预定电压电平的第一验证电压信号(Vabse)和具有基本上对应于第一状态的预定电压电平的第二验证电压信号(Vabsp)第二状态下阵列中存储单元的阈值电压电平。

著录项

  • 公开/公告号US6108263A

    专利类型

  • 公开/公告日2000-08-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MOTOROLA INC.;

    申请/专利号US19990373305

  • 申请日1999-08-12

  • 分类号G11C13/00;G11C16/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:36:24

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号