首页> 外国专利> Unevenness detector for stacks of objects, e.g. stacks of paper card, corrugated cardboard sheets, etc., measures unevenness in millimeters and determines if surface is concave, convex, S-shaped, etc.

Unevenness detector for stacks of objects, e.g. stacks of paper card, corrugated cardboard sheets, etc., measures unevenness in millimeters and determines if surface is concave, convex, S-shaped, etc.

机译:用于物体堆叠的不均匀度检测器,例如一叠纸卡,瓦楞纸板等,以毫米为单位测量不均匀度,并确定表面是否是凹面,凸面,S形等。

摘要

The stacks of objects are scanned by a focussed beam from a device on a robot arm as the stacks pass under the robot arm. The beam reflection data is fed to a computing device which indicates unevenness in millimeters and determines if surface is concave, convex, S-shaped.
机译:当物体在机器人手臂下方经过时,它们会被来自机器人手臂上的设备的聚焦光束扫描。光束反射数据被馈送到计算设备,该计算设备指示以毫米为单位的不均匀度,并确定表面是否为凹面,凸面,S形。

著录项

  • 公开/公告号NL1013953C1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-06-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUNCTION CONTROL RESEARCH B.V.;

    申请/专利号NL19991013953

  • 发明设计人 WILLEM VAN OOSTEROM;

    申请日1999-12-24

  • 分类号G06K7/10;G06K9/00;G06M9/00;

  • 国家 NL

  • 入库时间 2022-08-22 01:24:42

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