机译:非单晶膜,具有非单晶膜的基质,用于生产相同膜的方法和装置,用于检查相同膜的方法,装置,薄膜晶体管,薄膜晶体管阵列以及使用其的图像显示
公开/公告号WO0161734A1
专利类型
公开/公告日2001-08-23
原文格式PDF
申请/专利权人 MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO. LTD.;NISHITANI HIKARU;YAMAMOTO MAKOTO;TAKETOMI YOSHINAO;YAMAMOTO SHINICHI;MIURA MASANORI;
申请/专利号WO2001JP01085
申请日2001-02-15
分类号H01L21/20;H01L21/268;H01L29/786;
国家 WO
入库时间 2022-08-22 01:17:35