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High-performance IEEE1149.1-compliant boundary scan cell

机译:符合IEEE1149.1标准的高性能边界扫描单元

摘要

A circuit is disclosed that includes a latch circuit and boundary scan cell circuitry. The latch circuit includes a slave latch and a master latch having a data output. The slave latch includes at least a first data input connected to the data output of the master latch, a second data input, and a control input that receives a control signal that controls latching of data present at the second data input. The boundary scan cell circuitry is connected to the second data input and to the control input of the slave latch so that the boundary scan cell circuitry can supply the control signal and data to the slave latch. In one embodiment, the boundary scan cell circuitry is IEEE1149.1-compliant and the circuit further includes either an output driver coupled to the data output of the slave latch or an input receiver coupled to a data input of the master latch.
机译:公开了一种包括锁存电路和边界扫描单元电路的电路。锁存器电路包括具有数据输出的从锁存器和主锁存器。从锁存器至少包括连接到主锁存器的数据输出的第一数据输入,第二数据输入以及接收控制信号的控制输入,该控制信号控制存在于第二数据输入处的数据的锁存。边界扫描单元电路连接到第二数据输入和从锁存器的控制输入,使得边界扫描单元电路可以将控制信号和数据提供给从锁存器。在一个实施例中,边界扫描单元电路符合IEEE1149.1标准,并且该电路还包括耦合到从锁存器的数据输出的输出驱动器或耦合到主锁存器的数据输入的输入接收器。

著录项

  • 公开/公告号US06185710B2

    专利类型

  • 公开/公告日2001-02-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号US09050599

  • 发明设计人 CARL FREDERICK BARNHART;

    申请日1998-03-30

  • 分类号G01R312/80;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:07:24

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