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Semiconductor wafer planarizing device and method for planarizing a surface of semiconductor wafer by polishing it

机译:半导体晶片平坦化装置和通过抛光半导体晶片表面而使其平坦化的方法

摘要

A semiconductor wafer planarizing device for polishing a surface of a semiconductor wafer comprises a polishing pad having a hard polishing area and a soft polishing area. In a method of planarizing a surface of the semiconductor wafer by using the device, times during which said semiconductor wafer contacts said first area or said second area of the polishing pad is controlled.
机译:用于抛光半导体晶片的表面的半导体晶片平坦化装置包括具有硬抛光区和软抛光区的抛光垫。在通过使用该装置使半导体晶片的表面平坦化的方法中,控制所述半导体晶片接触抛光垫的所述第一区域或所述第二区域的时间。

著录项

  • 公开/公告号US6197692B1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OKI ELECTRIC INDUSTRY CO. LTD.;

    申请/专利号US19990317948

  • 发明设计人 KIMIHISA FUSHIMI;

    申请日1999-05-25

  • 分类号H01L210/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:05:00

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