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Ultra-thin interface oxidation by ozonated water rinsing for emitter poly structure

机译:臭氧水冲洗进行超薄界面氧化,形成发射极多晶结构

摘要

The present invention relates to a method of forming an interfacial oxide in a bipolar transistor. The method comprises the step of rinsing a wafer having an exposed base region with ozonated deionized water, thereby forming an interfacial oxide layer over the exposed base region.
机译:本发明涉及在双极型晶体管中形成界面氧化物的方法。该方法包括以下步骤:用臭氧化的去离子水冲洗具有暴露的基础区域的晶片,从而在暴露的基础区域上形成界面氧化物层。

著录项

  • 公开/公告号US2002142500A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-10-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FOGLIETTI PIETRO;WILLIS CARL;

    申请/专利号US20010818329

  • 发明设计人 PIETRO FOGLIETTI;CARL WILLIS;

    申请日2001-03-27

  • 分类号H01L21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:50:40

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