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Performance verification/analysis tool for full-chip designs

机译:用于全芯片设计的性能验证/分析工具

摘要

A method and apparatus may be provided for providing performance verification/analysis of a full-chip design. This may include performing an analysis on a first block of the full-chip design. Data (such as a waveform output from a pin of the block) may be captured while performing the analysis. This captured data may be utilized when performing an analysis of the full-chip design. Features of an interconnect between the first block and a second block may be determined using the captured data.
机译:可以提供一种用于提供全芯片设计的性能验证/分析的方法和装置。这可以包括对全芯片设计的第一块执行分析。可以在执行分析时捕获数据(例如,从模块的引脚输出的波形)。当执行全芯片设计分析时,可以利用该捕获的数据。可以使用捕获的数据来确定第一块和第二块之间的互连的特征。

著录项

  • 公开/公告号US2002144225A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-10-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KAY RONY;KURUPATI SREENATH;

    申请/专利号US20010820876

  • 发明设计人 RONY KAY;SREENATH KURUPATI;

    申请日2001-03-30

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:50:34

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