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Device for the quantitative alignment assessment ot two machine parts,tools or similar

机译:用于对两个机器零件,工具或类似零件进行定量对中评估的设备

摘要

The device for the quantitative assessment of the aligned position of two machine parts, workpieces or the like is specifically used for the purpose of axial alignment or a spindle orientation. A beam of light falls on a two-dimensionally readable optoelectronic sensor, the local point of impingement is determined by the sensor. A portion of the light beam from the sensor is preferably directly reflected onto a second optoelectronic sensor. The local point of incidence of the reflected light beam is determined in analogous manner by the second sensor. From the signals of both sensors, the orientation of at least the first sensor is determined relative to the position of the light beam.
机译:为了轴向对准或主轴定向的目的,特别使用用于定量评估两个机器零件,工件等的对准位置的装置。一束光束落在二维可读的光电传感器上,撞击的局部点由传感器确定。来自传感器的光束的一部分最好直接反射到第二光电传感器上。反射光束的局部入射点由第二传感器以类似的方式确定。根据两个传感器的信号,确定至少第一传感器相对于光束位置的方向。

著录项

  • 公开/公告号EP1150095A3

    专利类型

  • 公开/公告日2002-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PRUEFTECHNIK DIETER BUSCH AG;

    申请/专利号EP20010107127

  • 发明设计人 HERMANN MICHAEL;

    申请日2001-03-22

  • 分类号G01B11/27;G01C15/00;G01S5/16;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 00:34:18

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