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Semiconductor material etching ion source multiple charged beam having ionization reactor with extractor wall/ionization input and input/output poles with enclosing flux magnetic field.

机译:半导体材料蚀刻具有电离反应器的离子源多电荷束,该电离反应器具有抽取器壁/电离输入和输入/输出极,并带有封闭的通量磁场。

摘要

The multiple charged ion source (100) has an ionization reactor with end walls (P1,P2) on the input wall and one an extraction wall, coupled to a gas ionizer input (300) with an ionization wave guide (106). The source has an electromagnet with two pole pieces (101,102) which are input and output poles. There are driving coils (B1,B2). A central bored out section (105) holds the extractor ions (107) and ion extraction electrodes (109). The pole pieces have a magnetic flux enclosure (110). The magnetic field formed in the reactor central part is lower or constant.
机译:多电荷离子源(100)具有电离反应器,该电离反应器具有在输入壁上的端壁(P1,P2)和一个提取壁,其通过电离波导(106)与气体电离器输入(300)耦合。源具有一个带有两个极靴(101,102)的电磁体,分别是输入和输出极。有驱动线圈(B1,B2)。中央钻孔部分(105)容纳提取离子(107)和离子提取电极(109)。极靴具有磁通罩(110)。在反应堆中央部分形成的磁场较低或恒定。

著录项

  • 公开/公告号FR2820880A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-08-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 X-ION;

    申请/专利号FR20010001924

  • 发明设计人

    申请日2001-02-13

  • 分类号H01J27/18;H05H7/04;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-22 00:24:10

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