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The optical survey instrument which is based on the spatial filtering which uses the refractive index diffraction grating

机译:基于使用折射率衍射光栅的空间滤波的光学测量仪器

摘要

An optical inspection system ( 10 ) for comparing surface structures of test and reference objects comprises a laser ( 12 ), a photorefractive crystal ( 24 ) and a detector ( 30 ). A refractive index grating corresponding to a diffraction pattern of a surface structure of the reference object is present within the photorefractive crystal ( 24 ) and acts as a spatial filter for light diffracted by surface structures of the test objects. If a surface structure of a test object matches that of the reference object, little or no light reaches the detector ( 30 ). If the surface structure of a text object differs from that of the reference object, light of greater power reaches the detector ( 30 ). The system ( 10 ) provides a simple pass/fail comparison test and light incident on the detector ( 30 ) requires no interpretation or other processing. The system ( 10 ) may be adapted to allow simple imaging of an edge of an object.
机译:用于比较测试对象和参考对象的表面结构的光学检查系统(10)包括激光器(12),光折射晶体(24)和检测器(30)。在光折射晶体(24)内存在与参照物的表面结构的衍射图相对应的折射率光栅,该衍射光栅作为被检查物的表面结构衍射的光的空间滤波器。如果测试对象的表面结构与参考对象的表面结构匹配,则几乎没有或没有光到达检测器(30)。如果文本对象的表面结构与参考对象的表面结构不同,则更大功率的光到达检测器(30)。系统(10)提供简单的通过/失败比较测试,并且入射在检测器(30)上的光不需要解释或其他处理。系统(10)可以适于允许对物体的边缘进行简单成像。

著录项

  • 公开/公告号JP2003507708A

    专利类型

  • 公开/公告日2003-02-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 キネティック リミテッド;

    申请/专利号JP20010517150

  • 发明设计人 クック ゲアリー;

    申请日2000-08-07

  • 分类号G01N21/88;G02B5/18;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 00:21:29

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