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INSULATION DEGRADATION DETECTING METHOD AND INSULATION LIFE PREDICTING METHOD

机译:绝缘降解检测方法及绝缘寿命预测方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an insulation degradation detecting method capable of detecting degradation in an insulating layer at an early stage, by directly measuring the state of degradation in the solid insulation layer of an electric apparatus, and an insulation life predicting method capable of predicting the life (remaining life) of the insulating layer. SOLUTION: With attention given to resin hydrolysis considered to be one of chemical degradations in the solid insulating layer containing a resin, a coil insulating layer 2 is directly sampled and analyzed to detect and determine a specific organic acid, which is a resin hydrolysate.
机译:解决的问题:获得一种能够通过直接测量电气设备的固体绝缘层中的劣化状态而在早期阶段检测绝缘层中的劣化的绝缘劣化检测方法,以及一种能够预测绝缘层寿命的方法。预测绝缘层的寿命(剩余寿命)。解决方案:注意树脂水解是包含树脂的固体绝缘层中的化学降解之一,因此直接对线圈绝缘层2进行采样和分析,以检测和确定特定的有机酸,该有机酸是树脂的水解产物。

著录项

  • 公开/公告号JP2003107075A

    专利类型

  • 公开/公告日2003-04-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP;

    申请/专利号JP20010301025

  • 发明设计人 TSUJI HIROKO;

    申请日2001-09-28

  • 分类号G01N33/44;G01N21/35;G01N30/06;G01N30/88;G01R31/06;G01R31/12;G01R31/34;H01F41/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 00:18:51

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