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PCI-X bus system testing and verification apparatus and method

机译:PCI-x总线系统测试验证装置及方法

摘要

An improved PCI-X verification method and apparatus provides iterative testing of all desired conditions or protocol combinations in a PCI-X system. One or more commands may be tested in combination with one or more functional behavior parameters throughout a desired range of variable parameter values. In one aspect, an apparatus and method for testing a PCI-X device for compliance under the PCI-X Addendum to the PCI Local Bus Specification in completer operation are provided. In another aspect, an apparatus and method for testing a PCI-X-device for compliance under the PCI-X addendum to the PCI Local Bus Specification in requester operation are provided.
机译:改进的PCI-X验证方法和设备提供了对PCI-X系统中所有期望条件或协议组合的迭代测试。在可变参数值的期望范围内,可以结合一个或多个功能行为参数来测试一个或多个命令。在一个方面,提供了一种在完成器操作中用于根据PCI本地总线规范的PCI-X附录对PCI-X设备的符合性进行测试的装置和方法。在另一方面,提供了一种在请求者操作中根据PCI本地总线规范的PCI-X附录对PCI-X设备的符合性进行测试的装置和方法。

著录项

  • 公开/公告号US6633832B1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-10-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LSI LOGIC CORPORATION;

    申请/专利号US20010795770

  • 发明设计人 ADAM BROWEN;

    申请日2001-02-28

  • 分类号G06F113/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:06:46

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