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TEST PROCESS OF ELECTRONIC PARTS USING VISION SYSTEM

机译:利用视觉系统对电子零件进行测试

摘要

PURPOSE: A method for testing electronic components using a vision system is provided to enhance reliability and satisfaction by testing the electronic components within a short time. CONSTITUTION: Electronic components are transferred to a feeder portion by a hopper(S1-S4). The electronic components are transferred to a rotating portion through a liner feeder(S5,S6). The electronic components are aligned by an alignment portion(S7). The electronic components are photographed by a camera(S8-S11). The photographed image signal is transmitted to a micro computer(S12). A test for the electronic components is performed(S13). A position of a bad electronic component is detected by a counter sensor and a decoder(S14). The position information is transmitted to a micro computer(S15). Confirmation data of the micro computer are transmitted to a control portion(S16). The electronic components are discharged to a good component discharge box or a bad component discharge box according to an output signal of the control portion(S17-S21). A test process is finished if all operations are performed(S22,S23).
机译:目的:提供一种使用视觉系统测试电子元件的方法,以通过在短时间内测试电子元件来提高可靠性和满意度。组成:电子元件通过料斗(S1-S4)转移到进料器部分。电子元件通过衬里进料器(S5,S6)转移到旋转部分。电子部件通过对准部对准(S7)。电子零件由照相机拍摄(S8-S11)。拍摄的图像信号被发送到微型计算机(S12)。进行电子部件的测试(S13)。通过计数传感器和解码器检测不良电子部件的位置(S14)。位置信息被发送到微型计算机(S15)。微型计算机的确认数据被发送到控制部(S16)。根据控制部分的输出信号,将电子元件排放到良品排放箱或不良品排放箱中(S17-S21)。如果执行了所有操作,则测试过程结束(S22,S23)。

著录项

  • 公开/公告号KR100367863B1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-01-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20010013929

  • 发明设计人 성경;

    申请日2001-03-17

  • 分类号H05K13/08;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 23:45:53

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