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Surface analyzer using deflectometry technique, e.g. for sheet metal, has intensity patterns generated at spatial light modulator and picked up by electronic camera

机译:使用偏转测量技术的表面分析仪,例如用于钣金,具有在空间光调制器处生成并由电子相机拾取的强度模式

摘要

A spatial light modulator (1) is positioned in direct proximity to the surface to be tested (2), such that a sequence of intensity patterns generated by an evaluation computer (3) at the light modulator are reflected on the surface (2), and detected by an electronic camera. The camera focusses on the surface region lying directly below the light modulator. The spatial light modulator may be an LCD flat screen with 640x480 pixels.
机译:将空间光调制器(1)放置在紧邻要测试的表面(2)的位置,以使评估计算机(3)在光调制器处生成的一系列强度图案反射在表面(2)上,并由电子照相机检测到。相机聚焦在直接位于光调制器下方的表面区域上。空间光调制器可以是具有640x480像素的LCD平面屏幕。

著录项

  • 公开/公告号DE20216852U1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VIALUX MESSTECHNIK + BILDVERARBEITUNG GMBH;

    申请/专利号DE2002216852U

  • 发明设计人

    申请日2002-10-28

  • 分类号G01B11/24;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 23:41:10

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