要解决的问题:提供一种悬浮颗粒物密度测量系统/方法,以及一种用于悬浮颗粒物密度测量的滤带,以实现高灵敏度的测量。解决方案:滤带1用于悬浮颗粒物密度测定法,其中在形成包括悬浮颗粒物集合的测量点4之后进行悬浮颗粒物的测量,在该测量点4上缠绕有遮蔽带8。一种要堆积的状态。
版权:(C)2004,日本特许厅
公开/公告号JP2004012199A
专利类型
公开/公告日2004-01-15
原文格式PDF
申请/专利权人 HORIBA LTD;
申请/专利号JP20020163417
申请日2002-06-04
分类号G01N1/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:34:17