要解决的问题:提高内置单元的质量并轻松测试和监视内置单元。
解决方案:用于内置单元的IC 101内置在内置单元中,并测试内置单元的操作。 IC 101设置有通信部分102,该通信部分102从外部单元接收测试项目数据并将测试结果发送到外部单元,测试部分105基于接收到的测试项目数据来测试内置单元,并将测试结果传送到通信中。部件102,测试结果收集部件108和测试结果存储部件109存储测试结果。
版权:(C)2004,日本特许厅
公开/公告号JP2004046299A
专利类型
公开/公告日2004-02-12
原文格式PDF
申请/专利权人 CATS KK;
申请/专利号JP20020199190
申请日2002-07-08
分类号G06F11/22;G01R31/28;G06F11/30;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:33:13