解决方案:通过在指定范围内改变标准样品的晶格常数,可通过使用表达式(y = f(x,a)=(a)x + (a)),累积数据,并构建数据库。另一方面,用会聚的电子束辐射/扫描被评估的样本,将展开的HOLZ线条图案与图案数据库进行比对,以选择最匹配的HOLZ线条图案。根据具有HOLZ线图案的数据库的晶格常数数据来确定被测样品的晶格常数。同样,可以根据确定的晶格常数二维映射试样中应力和应变的分布状态。
版权:(C)2004,日本特许厅
公开/公告号JP2004093281A
专利类型
公开/公告日2004-03-25
原文格式PDF
申请/专利权人 TOSHIBA CORP;
申请/专利号JP20020253647
发明设计人 TAKENO SHIRO;
申请日2002-08-30
分类号G01N23/207;G01B15/00;G01B15/06;G01L1/00;H01L21/66;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:32:39