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ELECTRON BEAM EMISSION SOURCE, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRON BEAM EMISSION SOURCE AND ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM

机译:电子束发射源,电子束发射源的制造方法以及电子束光刻技术

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electron beam emission source with a smaller electron emission angle, having a structure easy to join a nanotube, to provide a manufacturing method of the electron beam emission source, and to provide an electron beam lithography system with a smaller electron beam diameter and capable of exposing a micropattern.;SOLUTION: The electron beam emission source has a protrusion 3 with a conductivity on a board 1, and part other than the tip part 3a is covered with an insulator 2, and a carbon nanotube 4 is jointed with the tip part 3a of the protrusion 3.;COPYRIGHT: (C)2004,JPO
机译:解决的问题:提供具有较小电子发射角,具有易于结合纳米管的结构的电子束发射源,提供该电子束发射源的制造方法以及提供一种具有以下特征的电子束光刻系统:解决方案:电子束发射源在板1上具有带有导电性的凸起3,除尖端3a之外的其他部分覆盖有绝缘体2和碳纳米管。图4与突起3的顶端部3a接合。版权所有:(C)2004,日本特许厅

著录项

  • 公开/公告号JP2004158357A

    专利类型

  • 公开/公告日2004-06-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RICOH CO LTD;

    申请/专利号JP20020324324

  • 发明设计人 MASUZAWA MASAHIRO;

    申请日2002-11-07

  • 分类号H01J1/304;H01J9/02;H01J37/073;H01L21/027;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 23:30:27

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