解决方案:指定当交叉擦除的效果基本饱和时的次数x,并且指定光记录介质接收到一次交叉擦除前后的信号振幅的变化量或变化率。根据一次交叉擦除对光记录介质的影响前后的信号幅度变化与前后的抖动变化之间的关系,将其作为与容许的抖动变化量或变化率相对应的临界值。通过x倍交叉擦除对光记录介质的影响。然后,OPC通过一次交叉擦除来测量对光记录介质的影响前后信号幅度的变化量或变化率,并将其与获得的临界值进行比较,从而确定激光束在光束上的强度结果的依据。因此,可以获得充分考虑交叉擦除的影响的值作为激光束强度。
版权:(C)2004,日本特许厅
公开/公告号JP2004030820A
专利类型
公开/公告日2004-01-29
原文格式PDF
申请/专利权人 TDK CORP;
申请/专利号JP20020187617
申请日2002-06-27
分类号G11B7/0045;G11B7/006;G11B7/125;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:28:55