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JITTER MEASUREMENT SYSTEM OF HIGH-SPEED DATA OUTPUT DEVICE AND TOTAL JITTER MEASURING METHOD

机译:高速数据输出设备的抖动测量系统及抖动测量方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a jitter measurement system of high-speed data output device and total jitter measuring method.;SOLUTION: The system comprises a high-speed data output device being a test object, a test device providing data for testing and a reference clock of comparison motion, and a high-speed comparator which is connected between the high-speed output device for receiving the data for testing and the test device and is mutually comparing differential output data of the high-speed data output device according to the reference clock of comparison motion.;COPYRIGHT: (C)2004,JPO
机译:解决的问题:提供一种高速数据输出设备的抖动测量系统和总抖动测量方法。解决方案:该系统包括作为测试对象的高速数据输出设备,提供用于测试的数据的测试设备以及比较运动的参考时钟,以及高速比较器,该高速比较器连接在用于接收测试数据的高速输出设备和测试设备之间,并且根据该相互比较高速数据输出设备的差分输出数据。比较运动的参考时钟。;版权所有:(C)2004,日本特许厅

著录项

  • 公开/公告号JP2004061487A

    专利类型

  • 公开/公告日2004-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD;

    申请/专利号JP20030002570

  • 发明设计人 JANG JIN-MO;

    申请日2003-01-08

  • 分类号G01R31/319;G01R29/02;G01R31/28;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 23:28:46

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