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Method of evaluating ion-exchange film, method of evaluating organic sample and X-ray measuring apparatus

机译:离子交换膜的评价方法,有机样品的评价方法和X射线测定装置

摘要

Disclosed herein is a method of evaluating the performance of an ion-exchange film. In the method, small-angle scattering curves for the ion-exchange film are obtained by an X-ray measuring apparatus that can detect X-rays scattered at small angles with respect to the axis of an X-ray applied to film. From the positions of the peaks on the small-angle scattering curves and the X-ray intensities at these peaks, the molecular structure of the ion-exchange film is determined, thereby to evaluate the performance of the ion-exchange film.
机译:本文公开了一种评价离子交换膜的性能的方法。在该方法中,离子交换膜的小角度散射曲线是通过X射线测量设备获得的,该设备可以检测相对于施加到膜的X射线的轴以小角度散射的X射线。根据小角散射曲线上的峰的位置以及这些峰处的X射线强度,确定离子交换膜的分子结构,从而评价离子交换膜的性能。

著录项

  • 公开/公告号US2004008816A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RIGAKU CORPORATION.;

    申请/专利号US20030457354

  • 发明设计人 KAZUHITO HOSHINO;YOSHIO IWASAKI;

    申请日2003-06-10

  • 分类号G01N23/201;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 23:20:00

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