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Testing a computer system by utilizing FPGA and programmable memory modules

机译:利用FPGA和可编程存储器模块测试计算机系统

摘要

An apparatus and method for testing a computer system by utilizing a Field Programmable Gate Array (FPGA) and programmable memory modules. The apparatus includes a controller, a plurality of programmable memory modules, and an FPGA. Each programmable memory module stores configuration data of peripheral devices of the computer system in corresponding versions, respectively, which are differentiated according to functions of the computer system. Each memory module stores configuration data about a PCI host controller, a memory controller, a PLL, an interrupt controller, an arbiter, a UART, or a timer. The FPGA is programmed according to data stored in one memory module selected from among the programmable memory modules. Therefore, in the apparatus, the FPGA does not contain a bus bridge circuit, so that the FPGA has an increased programmable area and can be easily connected even with peripheral devices requiring many input and output ports.
机译:一种通过利用现场可编程门阵列(FPGA)和可编程存储器模块来测试计算机系统的装置和方法。该设备包括控制器,多个可编程存储模块和FPGA。每个可编程存储模块分别以对应的版本存储计算机系统的外围设备的配置数据,该配置数据根据计算机系统的功能而有所不同。每个内存模块都存储有关PCI主机控制器,内存控制器,PLL,中断控制器,仲裁器,UART或计时器的配置数据。根据存储在从可编程存储器模块中选择的一个存储器模块中的数据对FPGA进行编程。因此,在该装置中,FPGA不包含总线桥电路,因此FPGA具有增加的可编程面积,并且即使与需要许多输入和输出端口的外围设备也可以容易地连接。

著录项

  • 公开/公告号GB2391359A

    专利类型

  • 公开/公告日2004-02-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 * SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号GB20030010013

  • 发明设计人 YOUNG-SIK * YUN;

    申请日2003-04-30

  • 分类号G06F11/267;

  • 国家 GB

  • 入库时间 2022-08-21 22:38:08

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