要解决的问题:提供一种表面检查方法,该方法使得能够对包括被检测出的异常部位的凹凸数据在内的,具有检测异常部位的平面的被检查材料的表面进行检查。
解决方案:表面检查方法适用于检查散布在多晶晶片表面上的异常部分(空洞/污染),并且具有使用低倍率物镜以使其在内部进行扫描的步骤。晶片表面的检查区域,并依次获取检查区域的大量低倍率检查图像,对低倍率检查图像进行图像处理以检测异常部分并对其位置进行操作/存储的步骤,使用高倍率物镜在改变异常部分的位置处的物距的同时获取检查区域的多个高倍率检查图像的步骤和计算正常区域的高度方向上的位置的步骤;以及基于多个高倍率检查图像,在异常区域的高度方向上的位置判断异常区域是凹陷部分(空隙)还是突出部分(污染)。
版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2004317190A
专利类型
公开/公告日2004-11-11
原文格式PDF
申请/专利权人 NEOMAX CO LTD;
申请/专利号JP20030108907
申请日2003-04-14
分类号G01N21/956;G01B11/02;G01B11/30;G06T1/00;H01L21/66;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 22:36:15