要解决的问题:提供一种方法来实时创建生产指示计划,而不会在以薄膜为代表的薄膜加工过程中引起生产批次的不必要延误以及设施或批次状态的变化。具有生产所需的许多设施和工艺的半导体和液晶只能通过一个过程进行处理,并且具有多个替代设施。解决方案:状态改变事件1由事件接收装置2接收,并且事件分析装置3分析它是来自批次还是来自设施。在事件来自批次的情况下,可处理设施收集装置10,可处理设施评估装置11和分配设施确定装置12确定接下来要处理该批次的设施,然后通过以下方式确定设施的生产订单:使用进行中的批次收集装置5,处理批次评估装置6和生产指令顺序确定装置7,以及在设施引起事件的情况下,创建生产指令计划。
版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2004334797A
专利类型
公开/公告日2004-11-25
原文格式PDF
申请/专利权人 MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD;
申请/专利号JP20030133586
申请日2003-05-12
分类号G05B19/418;G06F17/60;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 22:32:04