首页> 外国专利> Systematic control of cross fabrication (fab) engineering changes in integrated circuit (IC) foundry manufacturing

Systematic control of cross fabrication (fab) engineering changes in integrated circuit (IC) foundry manufacturing

机译:集成电路(IC)代工制造中的交叉制造(fab)工程变更的系统控制

摘要

System and method for controlling and propagating engineering changes in integrated circuit manufacturing. A preferred embodiment comprises a technical board (T/B, for example, T/B 220) and a technical database (TTD, for example, TTD 225). The T/B 220 gives permission to an IC fab (for example, IC fab A 205) prior to the IC fab making any changes to a fabrication process. The IC fab then makes an experimental run and reports the results to the T/B 220. The results may then be verified by additional experimental runs at other IC fabs. If the results are acceptable to the T/B 220, a new best known method is created and stored in the TTD 225 and is propagated to other IC fabs if these IC fabs uses the technology relevant to the best known method.
机译:用于控制和传播集成电路制造中的工程变更的系统和方法。一个优选实施例包括技术板(T / B,例如T / B 220 )和技术数据库(TTD,例如TTD 225 )。在IC晶圆厂对制造工艺进行任何更改之前,T / B 220 会获得IC晶圆厂(例如IC晶圆厂A 205 )的许可。然后,IC晶圆厂进行实验运行并将结果报告给T / B 220 。然后可以通过其他IC晶圆厂的其他实验运行来验证结果。如果结果对于T / B 220 是可以接受的,那么将创建一个新的最佳方法,并将其存储在TTD 225 中,如果这些IC晶圆厂可以传播到其他IC晶圆厂,使用与最知名方法相关的技术。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号