首页> 外国专利> Wide-band tapered-slot antenna for RF testing

Wide-band tapered-slot antenna for RF testing

机译:宽带锥形槽天线,用于射频测试

摘要

Methods and apparatus for testing wireless devices. Devices being tested receive and transmit radio frequency test signals. These radio frequency test signals are received or transmitted using an antenna associated with the device, and then are transmitted or received using a unique wide-band tapered-slot antenna connected to a test system. The wide-band tapered-slot antenna has an input path that is substantially orthogonal to the tapered slot, and one of the conductors defining the slot is grounded.
机译:用于测试无线设备的方法和装置。被测设备接收和发送射频测试信号。这些射频测试信号是使用与设备关联的天线接收或发送的,然后使用连接到测试系统的独特宽带锥形槽天线发送或接收的。宽带锥形缝隙天线具有与锥形缝隙基本正交的输入路径,并且限定缝隙的导体之一接地。

著录项

  • 公开/公告号US6900771B1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 YIZHOU HUANG;

    申请/专利号US20010014036

  • 发明设计人 YIZHOU HUANG;

    申请日2001-12-10

  • 分类号H01Q1/38;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:19:55

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号