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DEVICE FOR TAKING ELEMENTARY ANALYSIS BY MEANS OF SPECTROMETRY OF OPTICAL EMISSION ON LASER-GENERATED PLASMA

机译:激光发生等离子体光发射光谱法进行元素分析的装置

摘要

FIELD: measurement technology.;SUBSTANCE: device can be used for testing radionuclear materials and has pulse laser source, aids for focusing light from the source onto object to be subject to testing to get plasma onto surface of object, aid for testing plasma radiation spectrum, aid for determining element composition of object and aid for shifting object.;EFFECT: improved resolution.;10 cl, 2 dwg
机译:领域:测量技术;物质:该装置可用于测试放射性核材料并具有脉冲激光源,有助于将来自光源的光聚焦到要测试的物体上,从而使等离子体到达物体表面,有助于测试等离子体辐射光谱;帮助确定对象的元素组成;帮助移动对象。;效果:提高分辨率; 10 cl,2 dwg

著录项

  • 公开/公告号RU2249813C2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-04-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号RU20010121681

  • 申请日2000-11-02

  • 分类号G01N21/71;G01N21/63;

  • 国家 RU

  • 入库时间 2022-08-21 22:02:07

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