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Function layer microstructuring method, using photochemical etching of outer lacquer layer to reveal chrome protection layer which is etched before microstructuring of underlying function layer

机译:功能层微结构化方法,利用光化学蚀刻外漆层来揭示铬保护层,该铬保护层在底层功能层的微结构化之前被蚀刻

摘要

The microstructuring method uses photochemical etching of outer lacquer layer on at least one side of layer structure incorporating function layer which contains palladium, for revealing underlying chrome protective layer, which is then etched using first etching solution, before microstructuring of function layer via selective chemical etching and final removal of remaining areas of the protective layer via further etching solution.
机译:该微结构化方法是在包含钯的功能层所组成的层结构的至少一侧上,对外漆层进行光化学蚀刻,以露出下面的铬保护层,然后使用第一蚀刻液对其进行蚀刻,然后通过选择性化学蚀刻对功能层进行微结构化然后通过进一步的蚀刻溶液最终去除保护层的剩余区域。

著录项

  • 公开/公告号DE10321590A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FORSCHUNGSZENTRUM KARLSRUHE GMBH;

    申请/专利号DE2003121590

  • 发明设计人 LIU YONG;KOHL MANFRED;

    申请日2003-05-14

  • 分类号B81C1/00;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 22:01:25

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